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簡(jiǎn)要描述:Nanotest是柏林熱管理材料表征和電子器件可靠性分析聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室的一員,該實(shí)驗(yàn)室與開姆尼茨工業(yè)大學(xué)、勃蘭登堡工業(yè)大學(xué)和弗勞恩霍夫協(xié)會(huì)電子納米系統(tǒng)研究所齊名,聚焦于熱管理材料表征和電子器件可靠性分析領(lǐng)域,是歐洲相關(guān)領(lǐng)域主要的儀器供應(yīng)商之一。
Nanotest TOCS 3Ω分析儀
3Ω分析儀基于3ω諧波探測(cè)原理,可對(duì)微納米尺度塊體、粉體、液體、納米流體、薄膜和纖維等多類型的材料進(jìn)行熱物性表征,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)于固體材料的無損檢測(cè),同時(shí)也實(shí)現(xiàn)了對(duì)于多孔材料的熱物性表征。
TOCS是一款小巧、閃速檢測(cè)的分析儀,可在極短時(shí)間內(nèi)得到多種材料的熱傳導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率和吸熱系數(shù)等多個(gè)熱物性參數(shù),熱傳導(dǎo)率測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度可控制在1%內(nèi)。
技術(shù)參數(shù):
溫度范圍:RT-250°C(可提供更寬范圍)
升溫速率:0-50K/min (可提供更寬范圍)
熱導(dǎo)率準(zhǔn)確度:±1%
熱擴(kuò)散系數(shù)準(zhǔn)確度:±5%
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上一產(chǎn)品:TIFAS-IRNanotest TIFAS IR熱成像法失效分析儀
下一產(chǎn)品:LaTIMA-Nanotest LaTIMA 平面熱界面材料分析儀